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浏览:- 发布日期:2024-01-24 09:44:41【

电子背散射衍射(EBSD)技术自20世纪80年代开始发展以来,在材料研究中得到了大规模的应用,并在晶粒取向、应变研究、晶粒度测定、物相鉴定、再结晶、失效机理分析等方面发挥了重要的作用[1-5]。EBSD以入射电子束作为单色波照射在试样上形成的背散射电子作为点源,与试样表层的晶格发生布拉格衍射现象,其衍射束被照相底片交截后得到一对平行线,称为菊池线,所有晶面产生的菊池线构成电子背散射衍射谱(EBSP)[6]。对EBSP进行标定,即可得出晶粒的取向信息。EBSD要求试样有良好的导电性,且试样表面洁净平整,无残余应力。本文尝试利用EBSD技术对Inconel 625合金的组织进行分析。

实验材料为固溶态Inconel 625合金,其化学成分如表1所示。

对Inconel 625合金取样,试样经磨制,机械抛光后,再进行电解抛光。电解抛光液为64%H3PO4和15%H2SO4(体积分数),电解温度70 ℃,电流密度0.2 A/cm2,电解抛光时间30 s。用扫描电子显微镜(SEM)的电子背散射衍射(EBSD)分析功能对试样进行分析。

通过EBSD可对不经腐蚀的试样直接观察其晶粒形貌,此法尤其适用于腐蚀有困难的材料的组织观察。图1所示为Inconel 625合金的晶粒形貌。其试样仅进行了电解抛光,未作腐蚀。可见EBSD可以清晰地显示其晶粒形貌。由图1知,固溶后的Inconel 625合金其组织为等轴晶,晶内有大量孪晶。


EBSD分析可以统计晶粒尺寸,其至少可3种方法统计晶粒尺寸。一是直接在晶粒形貌图上测量(图1)。另一种方法是EBSD系统可用表格形式直接将晶粒尺寸显示出来,如表2所示。由于扫描区域晶粒很多,故表2只显示一部分。以表2第1个晶粒为例,Ni基体相,面积是272.16 µm2,直径是18.615 μm。


除上述两种方法外,EBSD系统还能用柱状统计图的形式给出晶粒尺寸,如图2所示。图2中给出了晶粒尺寸及其在扫描区域中所占的比例,清晰直观。例如:直径为19 μm的晶粒数量约占1%,直径为20 μm的晶粒数量约占2.5%。由于晶粒数量多,统计图很大,故图2也只截取了一部分。


表格法能看出单个晶粒尺寸,由柱状图能看出统计数据,两种方法各有优势,故分析晶粒尺寸时应结合使用。

EBSD系统可以进行晶界的角度统计,如图3所示。图3中蓝色柱为所有相邻点之间的取向差统计,红色柱为随机点之间的取向差统计。

蓝色柱能反映晶界角度情况。由图3中的蓝色柱可知,在扫描区域内有两种类型的晶界数量很多,一种是角度<5°的小角晶界,出现频率约为18%;一种是角度在60°附近的孪晶界,出现频率约为13.8%。

小角晶界易在再结晶、定向凝固、压力加工等过程中形成。此试样是轧态Inconel 625合金经固溶处理后的状态,排除定向凝固的情况后,则可知此试样在热轧过程中经历了动静再结晶过程,而且有大量晶粒处于再结晶的中后期,即仍有相当数量的亚晶界和小角晶界存在。此实验数据及分析符合试样的状态事实。

粗略的择优取向分析可由图3所示的晶界统计柱状图得到。其方法是比较蓝色柱与红色柱的分布差异。若无择优取向,蓝色柱和红色柱近似一致。若有择优取向,则蓝色柱和红色柱之间会有很大的差异。分析图3可知,该试样中存在轻微的择优取向,结合试样的处理状态可知,此现象由再结晶引起。再结晶接近完成时会在再结晶区域形成轻微的再结晶织构。

为了进一步精确地分析织构,作极图与反极图。

利用分析软件可以得到任意晶面的极图。图4所示为(100),(110),(111)晶面的极图,图5为(112),(122),(113)晶面的极图。一般情况下,用低指数面和较低指数面的极图就能反映出试样的织构。但若有特殊需要,也可画出任意晶面的极图。


图4图5可知,(100),(110),(111),(112),(122),(113)这6个晶面并无很强的择优取向。其取向特点是在局部有轻微的择优取向,总体上分布均匀。

图6为扫描区域的反极图。与极图不同,所有类型的织构分析中,最多只能画三个反极图。由图6可知(111)面及邻近晶面在试样的横向上有轻微的择优取向,(001)面及邻近晶面在试样的法向上有轻微的择优取向,与极图分析一致,也与图3的粗略择优取向分析一致。

(1)EBSD分析显示固溶后的Inconel 625合金其组织为等轴晶,晶内有大量孪晶。且EBSD可用3种方法统计晶粒尺寸,分别是晶粒形貌上直接显示法、表格统计法以及柱状图统计法。

(2)EBSD统计晶界角度可知,Inconel 625合金经轧制固溶后,两种类型的晶界数量很多,一种是角度<5°的小角晶界,出现频率约为18%;一种是角度在60°附近的孪晶界,出现频率约为13.8%。

(3)EBSD极图和反极图分析显示,Inconel 625合金经轧制固溶后,(111)面及邻近晶面在试样的横向上有轻微的择优取向,(001)面及邻近晶面在试样的法向上有轻微的择优取向。



文章来源——金属世界

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