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[检测百科]分享：某发射筒端盖密封失效分析2023年10月24日 10:59: 某发射筒端盖在周转过程中出现密封失效,通过理化检验和失效模拟试验等方法,对该端盖密封失效的原因进行了分析.结果表明:端盖外表面在周转过程中受到机械外力作用产生了裂纹,裂纹不断扩展导致泄漏失效;将包装箱内缓冲材料厚度适当增加,使发射筒与缓冲材料的间隙小于１mm,可有效避免此类失效的发生.; 阅读（1）标签：